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　　在線(xiàn)涂層測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。雖然幾種測(cè)厚儀在校準(zhǔn)中測(cè)量點(diǎn)和標(biāo)準(zhǔn)材料的選擇上有很多不同，但在操作中都有一些相同的需要注意的地方，如每種測(cè)厚儀對(duì)基體的表面曲率和厚度都有一個(gè)下限的規(guī)定，在實(shí)際校準(zhǔn)中應(yīng)選擇尺寸合理的基體進(jìn)行操作；測(cè)量中測(cè)頭的取向和壓力也會(huì)對(duì)結(jié)果有影響，要保持測(cè)頭與基體的垂直、壓力恒定并盡可能?。涣硗?，校準(zhǔn)覆層測(cè)厚儀時(shí)還要注意外界磁場(chǎng)和基體剩磁的干擾，校準(zhǔn)超聲波測(cè)厚儀時(shí)要注意溫度變化和耦合劑粘度的影響。

　　影響在線(xiàn)涂層測(cè)厚儀測(cè)量的若干因素如下：
　　1.基體金屬磁性變化，為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。
　　2.測(cè)量基體金屬厚度，基體金屬有一定臨界厚度，超過(guò)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。
　　3.邊緣效應(yīng)，在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不準(zhǔn)確的，校對(duì)試片盡量在試片中間以減少誤差。
　　4.測(cè)量件曲率，試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
　　5.被測(cè)物體表面粗糙度，基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。
　　6.磁場(chǎng)，被測(cè)物體周?chē)艌?chǎng)會(huì)干擾磁性測(cè)量，影響涂層測(cè)厚儀精度。
　　7.附著物質(zhì)，本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。